3D 封装的发展动态与前景1 为何要开发 3D 封装 迄今为止,在 IC 芯片领域,SoC(系统级芯片)是最高级的芯片;在 IC 封装领域,SiP(系统级封装)是最高级的封装
SiP 涵盖 SoC,SoC 简化SiP
SiP 有多种定义和解释,其中一说是多芯片堆叠的 3D 封装内系统集成(System-in-3D Package),在芯片的正方向上堆叠两片以上互连的裸芯片的封装,SIP 是强调封装内包含了某种系统的功能
3D 封装仅强调在芯片正方向上的多芯片堆叠,如今 3D 封装已从芯片堆叠发展占封装堆叠,扩大了 3D 封装的内涵
(1)手机是加速开发 3D 封装的主动力,手机已从低端(通话和收发短消息)向高端(可拍照、电视、广播、MP3、彩屏、和弦振声、蓝牙和游戏等)发展,并要求手机体积小,重量轻且功能多
为此,高端手机用芯片必须具有强大的内存容量
2005 年要求 256Mb 代码存储,1Gb 数据存储;2006 年要求 1Gb 代码存储,2Gb 数据存储,于是诞生了芯片堆叠的封装(SDP),如多芯片封装(MCP)和堆叠芯片尺寸封装(SCSP)等;[1](2)在 2D 封装中需要大量长程互连,导致电路 RC 延迟的增加
为了提高信号传输速度,必须降低 RC 延迟
可用 3D 封装的短程垂直互连来替代 2D 封装的长程互连;(3)铜互连、低 k 介质层和 CMP 已成为当今 CMOS技术中的一项标准工艺
随着芯片特征尺寸步入纳米尺度,对低 k 介质层要求越来越高,希望采用纯低 k(k<2
然而事与愿违,ITRS曾三次(三个节点)延期向低 k 介质层的切换
2003 年底在 Sematech 联盟主办的一次研讨会上,与会者认为,为改良 IC 互连面进行的低 k 材料研究有可能接近某种实际极限,未来应更多注重改进设计及制造低 k 介质层的能力,这表明实施 SoC