1、目的在相关的过程使用控制图和计算过程能力指数，确保过程具有能力，从而预防缺陷的产生。2、范围适用于控制计划中规定的过程。3、定义3.1-R图：均值和极差图3.2Ppk：初始能力指数3.3Cpk：过程能力指数3.45M1E：人员、机器、材料、方法、环境及测量4、职责4.1技术开发部在控制计划中规定使用控制图的过程，品保部进行过程的初始研究，计算Ppk值。4.2品保部负责控制图（如-R图或P图）的使用和Cpk值的计算。4.3人力资源处负责控制图的相关使用人员的培训。5、内容5.1说明本作业指导书规定使用的控制图特指-R图。其它控制图的使用方法参见《统计过程控制（SPC）》参考手册。5.2控制图格式采用美国三大汽车公司之标准格式，见<—R控制图>，若有客户要求时，则采用客户的规定格式。5.3描绘控制图的具体步骤5.3.1收集数据5.3.1.1选择子组大小、频率和数据a.子组大小本公司的-R图的子组大小为2~5，即每次连续抽2~5个产品。b.子组频率按控制计划要求。c.子组数的大小一般情况下，为25组以上。5.3.1.2建立控制图及记录原始数据。由控制图使用者将相关的日期/时间/读数/均值（）/极差（R）等记录于<-R控制图>中。5.3.1.3计算每个子组的均值（）和极差（R）按下列公式计算，并将结果记录于<-R控制图>中的相关栏位。，n为子组的样本容量R=X最大值–X最小值5.3.1.4选择控制图的刻度对于X图，坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值（X）最大值与最小值差的2倍。对于R图，刻度值应从最低值为0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。5.3.1.5将均值和极差R画到控制图上。5.3.2计算控制限5.3.2.1计算平均极差（）及过程平均值（）K为子组的数量5.3.2.2计算控制限UCLR=D4UCL=+A2LCLR=D3LCL=-A2式中之D4、D3及A2为常数，见<-R控制图>。5.3.2.3画控制线在平均值（）和极差图（R）中用水平虚线将各自的控制限画上去，在初始研究阶段，这些控制限叫试验控制限。5.4过程控制解释5.4.1分析极差图（R图）上的数据点a、超出控制限的点——出现一个或多个点超出任何一个控制限，是该点处于失控状态的主要证据。因为在只存在普通原因引起变差的情况下，超出控制限的点会很少，我们便假设该超出的是由于特殊原因造成的。因此，任何超出控制限的点是立即进行分析、找出存在的特殊原因点的信号。超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种：控制限计算错误或描点时描错；零件间的变化性或分布的宽度已经增大（即变坏），这种增大可以发生在某个时间点上，也可能是整个趋势的一部分；测量系统变化（例如，不同的检验员或量具）；测量系统没有适当的分辨力。有一点位于控制限之下（对于样本容量大于等于7的情况），说明存在下列情况的一种或几种：控制限或描点错误；分布的宽度变小（即变好）测量系统已改变（包括数据编辑或变换）b、链—有下列现象之一表明过程已改变或出现这种趋势：连续7点位于平均值的一侧；连续7点上升（后点等于或大于前点）或下降；高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部：输出值的分布宽度增加，其原因可能是无规律的（例如设备工作不正常或固定松动）或是由于过程中的某个要素变化（例如，使用新的不是很一致的原材料），这些都是常见的问题，需要纠正；测量系统改变（例如，新的检验员或量具）低于平均极差的链，或下降链表明存在下列情况之一或全部：输出值分布宽度减小，这常常是一个好状态，应研究以便推广应用和改进过程；测量系统改变，这样会遮掩过程真实性能的变化。注：当子组数（n）变得更小（5或更小）时，低于的链的可能性增加，则8点或更多点组成的链才能表明过程变差减少。c、明显的非随机图形：各点与的距离：一般地，大约2／3的描点应落在控制限的中间三分之一的区域内，大约1／3的点落在其外的三分之二的区域。如果显著多于2／3以上的描点落在离很近之处（对于25个子组，如果超过90％的点落在控制限三分之一的区域），则应对于下列情况的一种或更多进行调查：控制限或描点已计算错或描错；过程或取样方法被分层；每个子组系统化包含了...
