GIGABYTETECHNOLOGYCO
關鍵零件部制定者IQC外觀檢驗規範審核者核准者機構課江忠偉鐵件類IOCONNECTOR賴志明高永順1
PURPOSE(目的)確保D-SUBSERIES外觀品質之要求2
AREAofAPPLICATION(適用範圍)鐵件類IOCONNECTOR3
TERMINOLOGY,DEFINITIONS,ABBREVIATIONS(定義)(1)批次:每次進料/出貨的數量(2)取樣數:每批次取樣的檢驗數(3)嚴重缺點:產品的電氣功能性缺點(CR)(4)主要缺點:產品的組裝或機構性缺點(MA)(5)次要缺點:不影響產品之功能/組裝/機構的缺點及外觀缺點(MI)4
RESPONSIBILITIES(權責)品保部:依據此份文件檢驗各家廠商之D-SUBSERIES機構類料件
PROCEDURE(作業程序)5
1抽樣計劃:依進料檢驗程序之抽樣計劃表5
1注意事項:本水準採用累計制,若不良數超過允收數,即判定不合格,物料抽驗時,發現不良問題未列入規範中,品保部視其影響品質,與零件部討論並修正規範內容
2抽樣條件及方式:80~150燭光(流明/ft2)的冷白熒白光燈,以40-60cm的距離,以45度的視角,確認其外觀是否有受損
檢查時間與距離:A級B級C級時間5至7秒5至7秒5至7秒距離60公分60公分60公分B
檢查角度:檢查者的眼睛與受檢查物體表面的角度不得小於30度
光源與檢查角(適用於中、高度光澤):1
當光源來自頭頂,受檢零件須放在水平位置,檢查角度須與零件垂直面大約成45度角,且無引起反射的干擾
當光源來自檢查者上前方,則樣品須與水平位置傾斜8
,檢查者與垂直方向成45度角
檢視平板:檢查無光澤的平板時,檢查者須與板面成垂直,使光源與板面成45
2檢驗方式:5
1產品檢驗區域區分:6