计量检定规程VIP免费

计量检定规程深圳三和新电子科技有限公司ShenZhenSanHeXinElectronicTechnologyCo.,ltd文件名称计量器具内校作业指导书文件编号WI-MM-044使用部门工模部生效日期2014.2.10版本/版次A/0页次1/7编制周顺审核批准1、硬度计的内校程序(1)、结构说明:常用硬度计分为?章氐其计算符号为HV。?布氐其计算符号为HB，?洛氐其计算机符号为HR三者之结构大致相同。(2)、校验基准:使用外校合格的硬度计进行对比校准。(3)、校准环境及周期:常温、常压，静置2小时以上，校准周期12个月。(4)、校准步骤:项目步骤校准前1、检查有否影响测量精度的外观缺陷。2、检查指示表指针是否归零。校准中1、将待校与合格硬度计，分别对三种不同硬度的材料进行对比校准，两者间的表示值差，就是误差。2、校准中受力方向要与被测面垂直，且用力均匀。3、硬度计取用小心轻放，不可掉落地上。校准后1、硬度计出现异常时，须经品管部判定是否暂停使用/重校/报废的处理。2、硬度计不可测量金属或其他硬物品，用后放回原保管盒中。(5)、判定标准:表示值误差不超过?0.02，即为合格。(6)、记录保存:?、校准合格后，贴校准标签。?、校准不合格时:依实际情况，判定为:暂停使用，降级使用，维修，报废处理。?、将校准结果记录在《校准记录表》内。2、深度尺内校程序:(1)、结构概述:深度尺是用来测量肓孔，梯形孔及凹槽等深度尺寸的量具，(2)、校准基准:标准量块(外校合格的标准块)。(3)、校准环境及周期:常温，常压，静置2小时以上，校准周期12个月。(4)、校准步骤:深圳三和新电子科技有限公司ShenZhenSanHeXinElectronicTechnologyCo.,ltd文件名称计量器具内校作业指导书文件编号WI-MM-044使用部门工模部生效日期2014.2.10版本/版次A/0页次2/7编制周顺审核批准项目步骤校准前1、检查深度尺是否有碰伤，锈蚀，带磁或其他缺陷。2、检查深度尺的刻度线及数值是否清晰可见。3、检查是否有影响到测量精度的外观缺陷。4、尺框在尺身上移动应平稳，无卡住现象。5、锁紧装置的作用是否有效。校准中1、选择标准量块(外校合格的标准量块对深度尺进行校准)。2、量程为200mm的分别取51.1mm,121.5mm,191.8mm是程为300mm的分别妈51.1mm，101.2mm，51.3mm,201.5mm，250.0mm，每点校准两次，取平均值。3、采用标准量块时，须戴好手套，并小心不可掉落地面上。4、将量测数值减去标准量块值，即为误差值。校准后1、深度尺遇有外观不良或须调整时，由品管部判定是否暂停使用，送外校准。2、标准量块使用完后，须擦拭干净，喷上防锈油，放回固定位置保存。(5)、判定标准:表示值误差不超过?0.04MM即判为合格。(6)、记录保存:?、校准合格后，贴校准标签。?、校准不合格时，依实际情况，判定为暂停使用，降级使用，报废处理。?、将校准结果记录在《校准记录表》内。3、高度尺内校程序:(1)、结构概述:高度尺是用来测量工件的中央相互位置和精密划线的量具，其主要由以下结构组成，(2)、校准基准:选用外校合格的量块和平台进行比对校准。(3)、校准环境及周期:常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。(4)、校准步骤:项目步骤校准前1、检查高度是否有碰撞，锈蚀，带磁，或其他缺陷。2、检查高度尺的刻度线及数值是否清晰可见。3、检查是否有影响测量精度的外观缺陷。4、尺框在尺身上移动应平稳，无卡住现象。5、锁紧装置的作用是否有效。深圳三和新电子科技有限公司ShenZhenSanHeXinElectronicTechnologyCo.,ltd文件名称计量器具内校作业指导书文件编号WI-MM-044使用部门工模部生效日期2014.2.10版本/版次A/0页次3/7编制周顺审核批准校准中1、先检查游标剑测高扑与划线量扑下平面，与底座平面在同一水平面时，游标零刻度线，与尺身零度刻你是否对齐,不对齐，则先调整。2、选择适当，又不同长度的量块，分别用高度尺，对每个量块量测2次，其平均值与量块实际值做比对。3、将内校量测值减去外校合格量块测数值，即为误差值。校准后1、高度尺遇有外观不良或须调整时，由品管部判定暂停使用，并安排外校。(5)、判定标准:表示值误差不超过?0.04mm即为合格。(6)、记录保存:?、校准合格后，贴上校准标签。?、校准不合格时，依实际情况定为暂停使用，降级...