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1元器件失效模式及其失效比例元器件名称失效模式比例%元器件名称失效模式比例%二极管电压调整二极管(齐纳)开路45
0普通二极管短路49
0参数变化35
0参数变化15
0晶体管微波二极管开路60
0双极型晶体管短路73
0参数变化28
0场效应晶体管短路51
0整流二极管短路51
0输出偏低22
0参数变化17
0参数变化20
0可控硅整流二极管短路98
0输出偏高5
0GaAs场效应晶体管短路61
0小信号二极管参数变化58
0参数变化13
0射频晶体管参数变化50
0开关二极管短路40
0不连续22
1复式晶体管短路61
1加压不当11
1参数负漂移4
5基极开路5
6游离颗粒4
5发射极开路5
1连续损耗5
6半导体闸流管断不开45
0光电子器件闭合失效5
0发光二极管开路70
0三端双向可控硅开关二极管断开失效90
0闭合失效10
0光电耦合器退化54
9电压基准二极管(齐纳)参数变化69
0不能切换27
0过电应力5
9接线故障3
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2元器件失效模式及其失效比例(表续)元器件名称失效模式比例%元器件名称失效模式比例%光电耦合器(续)污染2
0运算放大器(续)功能失效1
5光电传感器短路50
0电压基准源电学失效34
0氧化层缺陷34
5模拟电路参数不符13
8线性电路输出超差77
0电压不当6
9无输出23
0机械故障3
4开关集成电路电学失效56
4输出错误16