经确认的校准项目表

校准授权项目第 1 页 共 15 页序号开展校准项目的器具或参数名称测量范围校准测量能力 / 准确度等级 / 最大允许误差依据文件名称及编号1.万能工具显微镜(0 ～200) ㎜MPE:(1+L/100) μ m 工具显微镜检定规程JJG56 2.线纹比较仪(0 ～200) ㎜MPE:(1+L/300) μ m 线纹比较仪检定规程JJG72 3.光学数显分度头0～360°MPE:2″ 及以下光学数显分度头检定规程JJG57 4.光切显微镜H: （0.8 ～80）μ m MPE: ± ( 5 ～24)% 光切显微镜校准规范JJF1092 5.干涉显微镜H:（ 0.1 ～1.0 ）μ m MPE: ± ( 5 ～22)% 干涉显微镜检定规程JJG77 6.量块(0.5 ～ 1000) ㎜4 等量块检定规程JJG146 7.量块（0.5 ～500）㎜5 等量块检定规程JJG146 8.通用卡尺(0 ～ 2000) ㎜MPE: ± ( 0.02 ～ 0.14) ㎜通用卡尺检定规程JJG30 9.高度卡尺(0 ～ 2000) ㎜MPE: ± ( 0.02 ～ 0.14) ㎜高度卡尺检定规程JJG31 10.千分尺(0 ～500) ㎜MPE:±（ 4～ 13）μ m 千分尺检定规程JJG21 11.带表千分尺（ 0～100）mm MPE:± 3μ m 带表千分尺检定规程JJG427 12.外径千分尺(500 ～1000) ㎜MPE:±（ 14～20）μ m 外径千分尺校准规范JJF1088 13.百分表检定仪（0～ 25） mm MPE: ±4μ m 指示类量具检定仪检定规程 JJG201 14.平面平晶φ (30 ～150) ㎜1 级 ;2 级平晶检定规程JJG28 15.平行平晶Ⅰ; Ⅱ ; Ⅲ; Ⅳ; 系列U=0.1 μ m k=3 平晶检定规程 \ JJG28 16.测长仪0～ 100 ㎜MPE：±（ 1+L/200 ）μ m测长仪校准规范JJF1189 17.立、卧式光学计（ 0～180）㎜MPE：± 0.25 μ m 光学计检定规程JJG45 18.测长机1m；2m；3m MPE: ± (0.5+L/100)μ m 测长机校准规范JJF1066 19.工具显微镜(200 ～100) ㎜MPE:±（ 1+L/100 ）μ m工具显微镜检定规程JJG56 20.接触式干涉仪(0 ～150) ㎜MPE:±（ 0.03+1.5ni△λ / λ ）μ m接触式干涉仪检定规程JJG101 21.自准直仪(0 ～ 10) ′MPE：± 0.2 ″ ～±1.0 ″ ；MPE：± 0.005 mm/m 自准直仪检定规程JJG202 22.合象水平仪-5 ㎜～ +5 ㎜MPE：± 0.02 mm/m 电子水平仪和合象水平仪检定规程JJG103 校准授权项目第 2 页 共 15 页23.电子水平仪（ -500 ～+500）个数MPE：±（ 1+ A/50 ）电子水平仪和合象水平仪检定规程JJG103 24.自准直仪（ 0～1000）分度MPE:±5 个分度自...