ICT培训资料VIP免费

ICT培训教材目录一.ICT的基本认识二．ICT的测试原理三．ICT测试程序的制作四．ICT误测分析五．ICT的转机流程六.ICT程序调试时注意事项七．ICT常见故障检修八.文件放置指引九.覆盖率的定义一.ICT的基本认识1.ICT即在线测试仪（InCircuitTester）,是一大堆高级电表的组合。但它能对在线电路板上的元件测试进行有效的隔离(Guarding),而万用表则不能.所以,万用表能测的它也能测,万用表不能测的,它可能能测.2.ICT能测:Open/Short;R;C;L;D;Q;IC等.3.ICT与ATE的区别:ICT只作静态测试,而ATE则作动态测试.即ICT对被测板不通电,而ATE要对被测板通电才能测试,二．ICT的测试原理当Rx有旁路（R1)时，Ix=Is-I1≠Is故：Vx/Is≠Rx此时取A点电位Va,送至C点,令Vc=Va,则：I1=(Va-Vc)/R1=0,Is=Ix从而：Vx/Is=Rx如图:Vx+-IsIxI1ABCICTVaVbVcWhenVc=VaI1=(Va-Vc)/R1=0RxR1+-U?326741.Guarding(隔离)的实现：2.量测电阻R：(1).单个R(modeD1,D2):直流定电流源:利用Vx=IsRx（欧姆定律），则Rx=Vx/Is.信号源Is取恒流（0.1uA—5mA）,量回Vx即可算出Rx值.如下图一.+-Vx=?IsRx+-Vs=0.2VIxRxC图一图二(2).R//C(modeV5,CV):直流定电压源:信号源Vs取恒压（0.2V），量回Ix，则Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix，算出Rx值.如上图二.(3).R//L(modeP1,P2,P3,P4,P5):相位法测试:信号源取交流电压源Vs，籍相位法辅助.|Y’|Cosθ=YRx=1/Rx,并|Y’|=I’x/Vs故：Rx=1/|Y’|Cosθ如下图:VsIxRxL3.量测电容C&电感L：(1).单个C&L（ModeA1.A2.A3.A4.A5）：交流定电压:交流电压源一定Vs,Vs/Ix=Zc=1/2лfCx,求得：Cx=Ix/2лfVs.Vs/Ix=Zl=2лfLx,求得：Lx=Vs/2лfIx.注:3UF以上电容用(ModelDC)VsIxIxVsCxLx(2).C//R或L//R:(P1.P2.P3.P4.P5)相位法测试:1.|Y’|Sinθ=|Ycx|,即ωCx’Sinθ=ωCx求得：Cx=Cx’Sinθ(Cx’=Ix’/2лfVs)2.|Y’|Sinθ=|Ycx|,即Sinθ/ωCx’=1/ωCx求得：Lx=Lx’/Sinθ(Lx’=Vs/2лfIx’)如下图:VsIxCxRIxVsLxR4.量测PN结：（D、Q、IC）信号源0-10V/3mAor30mA可程式电压源,量PN结导通电压一般顺向电压0.7V;反向电压2.2V.这里主要讲下三极管的三端量测法晶体管做三端点量测时,假设晶体管为NPNtype,实际值(ACTval)设定值为DA1所送电压，标准值(STDval)设定值即为晶体管的VCES电压值。改变实际值(ACTval)(从0.5V往上增加)，直到晶体管饱和导通(测试值应低于0.2V)。如果晶体管为PNPtype，改变实际值(ACTval)栏的电压(从4.5V往下减少)，直到晶体管饱和导通（测试值应低0.2V）。5.量测Open/Short：即以阻抗判定：先对待测板上所有Pin点进行学习,R<20Ω即归为ShortGroup，然后Test时进行比较，R<10Ω判定为Short,R>80Ω判为Open.短路10Ω80Ω开路20Ω学习参考点6.低压测试方法(LV)低压功能测试是允许你供应某一定电压到零件两端，同时测量零件两端的电压，如测电容反向、Zener二极管、或IC都可使用此法。假设我们要测一个6V的稳压二极管,我们可以在实际值中填入9V,标准值中填入6,当实际植的单位是V,而标准值不是0时,系统会送出一个9V电压至稳压二极管两端,然后量测稳压二极管的电压是否为5.6V,从而判定好坏.LV模式最大送出电压为10V7.高压测试方法(HV)高压测试的原理与设定方法与低压相似,只是在模式里选(HV),高压最大送出电压为50V跳线测试(JumperTest)跳线测试(JumperTest)采用一个比较器硬件线路，因此，测试的结果只有１、２、３、４四个值，单位以JP表示，其代表的意义如下：１JP：＜10欧姆(ohm)２JP：＞10欧姆(ohm)，＜20欧姆(ohm)３JP：＞20欧姆(ohm)，＜80欧姆(ohm)４JP：＞80欧姆(ohm)三．ICT测试程序的制作（一）准备好2PCS空PCB板，1PCS实板，1份BOM及原理图（邦线图），提供给供应商分析（二）供应商根据我们的要求制作测试机架及原始程序（三）根据BOM，电路图，针点图进行相对应的测试程序的调试1．单板的调试按“Ctrl+E”进入元件编辑界面先熟悉一下界面对照坏机故障，加深印象A元件（Component）的调试(R,C,L,D,Q)电阻（R）Debug:(1).根据R的大小,系统自动调整测试电流大小.F9:单步测试Alt+F9:整页测试F5:对调AB点F10自动Guarding.Alt+H:查看串连元件.Alt+J:查看并联元件.(2).R//C:Model(CV&V5)(3).R//D:Model(D2&V...