Atmega16 熔丝位定义一、熔丝位概述ATmega16 有高、低两个熔丝位字节，通过熔丝的设定，可以对系统时钟、启动时间、BOOT区设定、保密位设定以及某些特定功能的使能。各熔丝位的具体定义以及出厂默认值如表 1所示。其中，1 表示该位未被编程，0 表示该位已经被编程。表 1 ATmega16 熔丝位位号定义描述默认值熔丝位高字节7OCDENOCD使能位1（未编程，OCD 禁用）6JTAGENJTAG 测试使能0（编程，JTAG 使能）5SPIEN使能串行程序和数据下载0（被编程，SPI 编程使能）4CKOPT振荡器选项1（未编程）3EESAVE执行芯片擦除时 EEPROM 的内容保留1（未被编程），EEPROM 内容不保留2BOOTSZ1选择 Boot 区大小0（被编程）1BOOTSZ0选择 Boot 区大小0（被编程）0BOOTRST选择复位向量1（未被编程）熔丝位低字节7BODLEVELBOD 触发电平1（未被编程）6BODENBOD 使能1（未被编程，BOD 禁用）5SUT1选择启动时间1（未被编程）4SUT0选择启动时间0（被编程）3CKSEL3选择时钟源0（被编程）2CKSEL2选择时钟源0（被编程）1CKSEL1选择时钟源0（被编程）0CKSEL0选择时钟源1（未被编程）图1 AVR_fighter 熔丝位默认值二、熔丝位详解1、JTAG 和 OCD 使能位表 2 JTAG和 OCD使能OCDEN为 OCD 片上调试系统使能位，默认为 1，必须对 JTAGEN 熔丝位进行编程才能 使能 JTAG 测试访问端口。此外还必须保持所有的锁定位处于非锁定状态，才能真正使片上调试系统工作。 作为片上调试系统的安全特性，在设置了 LB1 或 LB2 任一个锁定位时片上调试系统被禁止。否则，片上调试系统就会给安全器件留下后门。在 JTAG 调试时，使能 OCDEN、JTAGEN 两位，并保持所有的锁定位处于非锁定状态；在定义描述10OCDEN片上调试使能位OCD 禁止OCD 允许JTAGENJTAG 测试使能位JTAG 禁止JTAG 允许实 际 使 用 时 为 降 低 功 耗 ， 不 使 能 OCDEN JTAGEN， 大 约 减 少 2-3mA 的 电 流 。注 意 事 项 ：（ 1）、 不 论 锁 位 与JTAGEN 熔 丝 位 设 置 为 什 么 ， 产 品 出 厂 时 不 对OCDEN 编 程 。 对 OCDEN熔 丝 位 编 程 后 会 使 能 系 统 时 钟 的 某 些 部 分 在 所 有 的 休 眠 模 式 下 运 行 ， 这 会 增 加 功 耗 ；（ 2）、 如 果 没 有 连 接 JTAG 接 口 ， 应 尽 可 能 取 消JTAGEN 熔 丝 位 的 编 程 状 态 ， 以 消...
