数字逻辑分析与设计课程门电路测量实验报告目录1实验目的…………………………………………………………………………………………12实验内容…………………………………………………………………………………………13实验设备…………………………………………………………………………………………14实验原理…………………………………………………………………………………………15实验过程及结果………………………………………………………………………………26实验心得…………………………………………………………………………………………41
实验目的1、掌握用测量门电路技术参数的基本方法2、熟悉74LS00芯片的封装和逻辑功能2
实验内容1、验证与非门74LS00的逻辑功能2、化简函数F=∑(1,3,5,9)+∑d(7,11,13),并用与非门74LS00实现
要求:用卡诺图化简,并画出逻辑电路图及芯片连线图
3、验证异或门74LS86的逻辑功能
实验设备实验电路板,74LS00型号芯片,74LS86型号芯片,各色导线若干
实验原理1、为了验证某一种门电路功能,首先选定元件型号,并正确连接好元件的工作电压端
选定某种“逻辑电平输出”电路,该电路应具有多个输出端,每个端都可以独立提供逻辑“0”和“1”两种状态,将被测门电路的每个输入端分别连接到“逻辑电平输出”电路的每个输出端
选定某种具有可以显示逻辑状态“0”或“1”的电路,将被测门电路的输出端连接到这种电路的输入端上
确定连线无误后,可以上电实验,并记录实验数据,分析结果
2、实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式,其管脚的识别方法为:将集成块的正面印有集成电路型号标记面对着使用者,集成电路上的标识凹口朝左,下角第一脚为一脚,按逆时针方向顺序排布其管脚
实验过程及结果5
1验证与非门74LS00的逻辑功能图174LS00引脚