显卡检验规范

精品文档---下载后可任意编辑CM 电子有限公司检 验 规 范文件名称：显卡 QA 检验法律规范文件编号：WI-QA-002更改提示：序 号更 改 内 容更改单号更改日期制 作审 核批 准日 期日 期日 期会 签发放范围：（在此处列明发放部门、人员及份数）◆ 质量部 （1） ◆ QA （1） ◆ 制造中心 （1） ◆ 技术部 （1）◆（1）CM 电子有限公司显卡 QA 检验法律规范文件编号WI-QA-002版 本A.0文件类型C 类文件第 1 页 共 7 页1. 目的制定 QA 出货产品的品质判定标准。2. 范围适用于本公司各类型的显卡及外购显卡，若所定标准与客户相抵触时，则依双方约定为准。 3. 引用标准 GB2929-87《逐批检查计数抽样程序及抽样表》（适用于连续批的检查） CG2.295.202JS 400D 技术条件 CG2.295. 204JS 5200 64 位技术条件 CG2.295.203JS 440 技术条件 CG2.255.209JS 4000 技术条件 WI-IQC-014 PCB 类物料检验法律规范4. 缺点定义4.1 严重缺点(Critical Defect)将导致人身损害或造成产品无法使用的缺点。4.2 主要缺点(Major Defect)将可能造成产品功能故障，降低其使用功能的缺点。4.3 次要缺点(Minor Defect)指不影响产品的使用、功能的外观缺点，并对产品的使用者不会造成不良影响。5. 抽样计划5.1 抽样计划采纳 GB/T2828-87 正常检查一次抽样方案；5.1.1 出货时再抽样一次；5.2 检验方法为抽样检验的显卡,在出现以下情况时,也可采纳全检：5.2.1 技术结构变更后首次交付；5.2.2 供应商变更后首次交付； 5.2.3 屡次发生质量问题.6. 检验项目6.1 依据品质判定标准所规定的项目实施.7. 承认样品 对于文字难以叙述清楚或不易判定合格与否的外观缺点,则以及说明图片,作为产品检验时判定的依据.CM 电子有限公司显 卡 QA 检 验 规 范文件编号WI-QA-002版 本A.0文件类型C 类文件第 2 页 共 7 页 品名：显卡精品文档---下载后可任意编辑抽样方案检 验 规 范GB/T2828-87正常检查一次 抽 样 方案；2. 检 查 水平：C：0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CMAMI开箱检查包装目测1.外纸箱打包完好，无严重破 损 、 水 渍 、 污 渍 、 挤压。 √目测2.内纸盒或隔离纸板具有防震、防碰撞作用。√目测3.本体采纳防静电袋包装，包装袋应无破损、封口贴无破损或重封现象。√目测/与样品核对4.驱动盘外表面干净无污迹或划伤，标识印刷清楚、...