精品文档---下载后可任意编辑高分子封装材料中空穴不稳定增长的分析与讨论的开题报告一、选题背景和意义：在高分子材料封装领域中，空隙的存在极大地降低了器件的可靠性和性能，因此必须采纳高效可靠的方法对材料中的空隙进行处理。其中，高分子封装材料中空穴的稳定性一直是一个普遍关注的讨论方向。在现有的方法中，热固化材料和环氧树脂的使用已经成为了主流方法。然而，这些材料中的空穴难以避开和抑制，长时间的使用和高温的作用都会导致空穴的不稳定增长。因此，对高分子封装材料中空穴不稳定增长的讨论有着重要意义。二、讨论内容和方案：1、讨论对象：高分子封装材料2、讨论内容：（1）对高分子材料中空穴不稳定增长的机理进行分析和讨论；（2）探究高分子材料中空穴形成的机理和影响因素；（3）采纳不同的方法和手段，对高分子材料中空穴的稳定性进行优化和加强。3、讨论方案：（1）采纳实验和仿真相结合的方法，对高分子材料中空穴不稳定增长进行讨论；（2）对采样的高分子材料进行材料分析，从分子结构上分析材料中空穴形成的机理和影响因素；（3）采纳原位观察的手段，对材料中空穴的生长规律进行讨论和分析；（4）针对高分子材料中空穴的不稳定增长，提出一系列的优化方案，并进行实验验证。三、讨论预期目标和成果：1、针对高分子封装材料中空穴不稳定增长的讨论，找到一种高效可靠的解决方案；2、为高分子封装材料的应用和讨论提供有力的参考和依据；3、在材料讨论和科学技术领域上做出一定的贡献。
