微波电路EDA实验报告

微波电路EDA 实验报告 实验内容： (1)低噪声放大器 (2)PCB 立体布线的不连续性分析 学 院： 电子工程学院 专 业： 电磁场与微波技术 班 级： 研 2-125 姓 名： 袁盟盟 学 号： 1202120938 指导老师： 张媛媛 实验一 低噪声放大器 一、设计要求 设计一个低噪声放大器，技术指标为：工作频率 5GHz，增益>10dB，噪声系数<1.2dB，稳定性无限制。记录放大器的总电路，以及放大器的增益、匹配、噪声、稳定性等参数的测量结果。 二、实验仪器 硬件：PC 机 软件：Microwave Office 三、设计步骤 （1 ）元件特性测试 创建原理图，命名为 Device 由元件库选择富士的 Fujitsu FHX35LG 管子，添加到电路图，在 Data Files 项内添加管子的数据文件，按要求编辑元件符号。 在电路图中添加 2 个端口，并连接到晶体管上，如图 1 所示，设置工作频率：0.1GHz～20GHz，步长为 0.1GHz。 123SUBCKTNET=ID="FHX35LG" S1 PORTZ=P=50 Ohm1 PORTZ=P=50 Ohm2 图 1 元件测试原理图 测量元件的S11 以及S22 参数，它们的圆图如图2（a）、（b）所示，测量元件的S21 以及MSG（测量项为 Linear Gain），测量结果如图2（c）所示 01.01.0-1.010.010.0-10.05.05.0-5.02.02.0-2.03.03.0-3.04.04.0-4.00.20.2-0.20.40.4-0.40.60.6-0.60.80.8-0.8Input PortSwp Max20GHzSwp Min0.1GHzS[1,1]Device01.01.0-1.010.010.0-10.05.05.0-5.02.02.0-2.03.03.0-3.04.04.0-4.00.20.2-0.20.40.4-0.40.60.6-0.60.80.8-0.8Out PortSwp Max20GHzSwp Min0.1GHzS[2,2]Device （a）测量项 S11 （b）测量项 S12 （c）测量项 S21 和 MSG 图2 元件特性测试结果 0 5 10 15 20 Frequency (GHz) Tw o Port Gain 0 10 20 30 40 DB(|S[2,1]|) Device DB(MSG) Device 测量元器件的噪声系数，测量项为NF 和NF Min，测量结果如图3 所示，再测量元件的稳定性数据（Stability Data）测量结果如图4 所示。 05101520Frequency (GHz)Two Port Noise Parameters00.511.522.53DB(NF)DeviceDB(NFMin)Device 图3 元件的噪声系数 05101520Frequency (GHz)Stability Data00.511.511.76 GHz 1KDeviceB1Device 图4 元件的稳定性 （2）稳态元件电路 继续先前的工程，添加外围电路，命名为Stable Dev ice 如图5所示，仿真并调节R1、R2 的阻值，检查放大器增益模块特性的各个测量的变化情况。其中...