电感耦合等离子体-质谱法InductivelyCoupledPlasma–MassSpectrometry(ICP-MS)同时测定痕量多元素的无机质谱技术目录ICP-MS的起源和发展ICP-MS系统组成及工作原理1
电感耦合等离子体2
ICP与MS的接口(Interface)3
ICP-MS样品引入系统(进样方式)5
质谱图及其干扰ICP-MS分析应用总结:ICP-MS方法的性能及特点ICP-MS的起源和发展1、1960s~70s,问题的提出电感耦合等离子体-原子发射光谱技术(ICP-AES)火花源无机质谱用于痕量元素分析(SSMS)优点:痕量多元素同时测定分析速度快、样品引入简单缺点:光谱干扰严重优点:谱图简单,分辨率适中,检出限低缺点:样品制备困难,分析速度慢常规离子源效率低ICP-AES+SSMSICP-MS分析速度:4~6个样品/小时m/z记录范围:6~238(Li~U)单同位素元素灵敏度:0
1mg/g精度:~25%全质量范围内的自动扫描操作者对离子源的控制程度尽可能小应用范围:地质研究2
ICP-MS最初的性能设计要求(1971,3)KeyPoint:连续高压离子源和质谱真空室之间的接口技术ICP-MS的起源和发展3
元素分析的质谱时代1980,Houk&Fassel首次发表ICP-MS联用技术的工作(两级真空接口技术,AmesLab
,IowaUniver
,USA)1983,“匹兹堡化学年会”,第一台ICP-MS商品仪面世(Elan250,Sciex)1990,“IthastrulybecomeatechniqueforMASSES”(Dr
Koppenaal)2000,全世界共有3500~4000台ICP-MS仪器国内:中国科技大学,南京大学,中山大学,南开大学,北京大学,中国地质大学,北京科技大学,浙江大学,厦