M--测量系统分析:连续型案例:gageaiag
Mtw背景:3名测定者对10部品反复2次TEST->测量值随OP的变动->测量值随部品的变动->对于部品10,OP有较大分歧;所有点落在管理界限内->良好大部分点落在管理界限外->主变动原因:部品变动->良好M--测量系统分析:离散型案例(名目型):gage名目
Mtw背景:3名测定者对30部品反复2次TEST检查者1需要再教育;检查者3需要追加训练;(反复性)两数据不能相差较大,否则说明检查者一致的判定与标准有一定差异个人与标准的一致性(再现性
)M--测量系统分析:离散型案例(顺序型):散文
Mtw背景:3名测定者对30部品反复2次TEST张四需要再教育;张一、张五需要追加训练;(反复性)两数据不能相差较大,否则说明检查者一致的判定与标准有一定差异M--正态性测定:(测定工序能力的前提)案例:背景:3名测定者对10部品反复2次TESTP-value>0
05->正态分布(P越大越好)本例:P=0
022,数据不服从正态分布
原因:1、Data分层混杂;2、群间变动大;M--工序能力分析(连续型):案例:Camshaft
MTW①工程能力统计:短期工序能力长期工序能力X平均=目标值->Cp=CpmX平均≠目标值->Cp>Cpm②求解Zst(输入历史均值):历史均值:表示强行将它拉到中心位置->不考虑偏移->Zst(Bench)③求解Zlt(无历史均值):无历史均值:->考虑偏移->Zlt(Bench)*Zshift=Zlt(Bench)-Zlt(Bench)=12
31工序能力分析:案例:Camshaft
MTW另:capabilitysixpack工具M--工序能力分析(离散型):案例:bpcapa
MTW(1):二项分布的Zst缺陷率:不良率是否受样本大小影响
-平均(预想)PPM=226427-Z