1化学气相淀积工艺23半导体薄膜:Si,GaAs介质薄膜:SiO2,BPSG,Si3N4,金属薄膜:Al,Cu在集成电路制备中,许多材料由淀积工艺形成4SiliconsubstrateOxide宽长厚与衬底相比薄膜非常薄Figure11
4薄膜是指一种在衬底上生长的薄固体物质
如果一种固体物质具有三维尺寸,那么薄膜是指一维尺寸远远小于两外两维上的尺寸
5对薄膜的要求1
Desiredcomposition,lowcontaminates,goodelectricalandmechanicalproperties
组分正确,沾污少,电和机械性能好2
Uniformthicknessacrosswafer,andwafer-to-wafer
每一硅片和硅片之间均匀性好3
Goodstepcoverage(“conformalcoverage”)
台阶覆盖性好4
Goodfillingofspaces
Planarizedfilms
平整性好6StepCoverageIssues:7FillingIssues:8Examplesorproblemsinactualstructures
a)stepcoverageinsputterdepositionofAl
voidsinCVDoxide9可以用深宽比来描述一个小间隙(如槽或孔)深宽比定义为间隙的深度和宽度的比值高深宽比间隙难淀积均匀厚度的膜
随着集成电路特征尺寸的不断减小,对于高深宽比间隙的均匀、无空洞的填充淀积工艺显得至关重要
10TwomaintypesofdepositionmethodshavebeendevelopedandareusedinCMOStechnology:两种主要的淀积方式•ChemicalVaporDeposition(CVD)-APCVD,LPCVD,PECVD,HDPCV