简单不良分类及原因介绍Cell 部分 亮点，灭点 个数 , 间距 , 连续 成因： Active remain, S/D remain, Gate remain, P/T Invisible( 不可见 ) 区分方法 : 显微镜下看，哪层的 remain ，根据外形，颜色PIXEL 不良手按 panel, 亮点消失，由于导电 particle 使 C/F 的ITO 和像素 ITO 连接，形成亮点，手按后， particle 碎了。手按 panel, 出现亮点，松开手，变正常。 ( 盒厚 5um)一般情况下算 T 级，不需要 Repair지지 ( 指压 )pixel发生在 2 个 Line 以上或 X 和 Y发生 Cross 的现象 DDS ：两条竖直的亮线GGS ：两条水平的白线DGS ：水平的暗线和一条竖直亮线 ??成因： 金属 Remain 导电 particle DGS 中可以根据导电颗粒的 位置来确定短路处SHORTParticle DATA PAD FAN-OUT 部因异物而发 生 SHORTDDSSCRATCH 在 DATA PAD 上发生 XY 线看起来为亮线或灭线的现象 X 완완 완 완완완 완 완（完全亮线）（完全亮线） 跟跟 contact missingcontact missing 的区的区别在于它的亮度不均别在于它的亮度不均 YY 완완 완완완 완 (( 薄线薄线 )) 浅灰色的亮或者暗线，浅灰色的亮或者暗线，灰度不均，有的段很不明显灰度不均，有的段很不明显 Gate set->Min Gate set->Min 处确认处确认 成因：成因： ESDESD 造成造成 datadata 和和 rerepair line pair line 短接。 短接。 cleanclean 时时候的候的 ptpt 造成造成 openopen 。。Line DefectOPEND-O ： X 线中间断掉的状态成因Chemical attackChemical attack （（ AATT ））Particle Particle Array DGS(->DO)Array DGS(->DO)InvisibleInvisibleParticle Data Open defect 的一些照片 一段亮线，向一侧逐渐变浅Cst Open （有公用线的话才会发生） 若 STORAGE LINE 在中途断掉，则信号发生 DELAY ，在 OPEN POINT 处变亮，然后逐渐趋于正常 . 因 Vcom 信号发生 DELAY ，所以从两侧施加，但随着 OPEN POINT 不同，发生状态也不同 . ( 若在正中央发生 OPEN ，则不发生亮线 )成因：ESD 契形的亮斑 , 有的伴有 Line Defect ESD 可以造成诸多不良，很多 PXL ， L －D 都是由于 ESD 造成 成因：受 ESD 影响，TFT 发生劣化或损坏 PXL 消...
