04Toolkit中文指南第四章可靠性预计VIP专享VIP免费

第四章 可靠性预计 ToolKit 在可靠性分析中包含五个预计模块。 1. 介绍 可靠性预计是可靠性分析最常用的形式之一，预计元件的失效率和综合系统的可靠性。这些预计模块用于评估设计的可行性，比较设计备选方案，识别薄弱环节，提出改进方案，以提高和改善产品的可靠性。 失效率 通过可靠性预计可以计算系统在某一任务时间内的失效率等参数，失效率是对产品提供可靠性检验的计算值，该值通常用每百万小时的失效次数(FPMH)表示，也可用每十亿小时的失效次数(FITS)表示。例如，某元件以2/百万小时的失效率看，在百万小时的时间周期内失效2 次。 失效率计算基于元件数据，例如温度、环境和应力。在预计模式，对集成块的失效率计算是每个单元失效率的总和。 平均失效间隔时间(MTBF) MTBF 是可修复产品可靠性的一种基本参数，可定义为单元、集成块或系统发生失效之前所经历的时间。 MTBF 是失效率的倒数。例如，某单元的失效率为 2/百万小时，MTBF 计算为失效率的倒数： 1,000,000 / 2500,000MTBFhh== MTBF 不仅可以用于可修复产品，同样可用于不可修复产品。 平均失效前时间(MTTF) MTTF 是不可修复产品可靠性的一种基本参数，可定义为设备的工件发生第一次失效之前所经历的平均时间，这是一个统计值，由大量元件经过一个很长的周期得到。MTTF 是失效率的倒数。 如果失效率为失效次数/百万小时，对于指数分布的单元， 1,000,000/MTTF =失效率。 平均维修时间(MTTR) MTTR 是产品维修性的一种基本参数，定义为修复性维修总时间与在该级别上被修复产品的故障总数之比。 2. 使用ToolKit进行可靠性预计 ToolKit 允许用户基于Bellcore，MIL-217，NSWC，RDF2000 和299B 标准建立可靠性预计。ToolKit 自动计算添加到系统中的元件的失效率和MTBF，而且，可自动更新元件失效率以及整个项目的失效率。 MIL-217 MIL-217 是使用最广的可靠性预计标准，包含电子系统部件的失效率模型，如IC 晶体管，二极管，电阻，电容，继电器，开关和连接件等。 Bellcore/Telcordia Bellcore 标准由 MIL-217 标准衍生而来，Bellcore 可靠性预计用于商业的电子产品，许多电子产品公司使用Bellcore 进行可靠性预计。 NSWC NSWC 标准通常用于机械产品模型，该标准用一系列模型来模拟各种类别的机械部件，预计其受温度、应力、流速和其它因素影响下的失效率。 RDF2000 RDF2000 是基于法国电讯标准，用于电子元件、电路板和设备的...