C D -R 光盘产品常规检测参数与说明 清华大学光盘国家工程研究中心主 任徐端颐 教授指出，目前市面销售的 CD-R 光盘的分级标准是生产厂商各自制定的，即所谓的 A 、 B 、 C 级，均是厂家各自的品质标准。在裸盘下生产线的时候，通过外观检验、几何检验、刻录兼容性和刻录品质检验等工序，就分出 A 、 B 、 C 级盘片，一般厂商的 A 级盘片用来给重大的 OEM 客户和自有品牌交货， B 、 C 级盘片用来出给小 OEM ，或者做白标盘处理。所以，选择和评价 CD-R 盘片，不能只看其标称等级，而应看其技术指标及测试标准。 由清华大学光盘国家工程研究中心起草的《可记录光盘（ CD-R ）常规检测参数》，已成为中华人民共和国新闻出版行业标准（ GY/T 38-2001 ），并于 2002 年 1 月 1 日实施。该标准规定了可记录光盘（ CD-R ）常规检测参数，适用于可记录光盘（ CD-R ）产品的质量检测。该标准 目前制定的技术指标及测试标准最高的为 A+ 级盘片，而没有所谓的 A++ 或 A+++ 级。 第一部分：光盘基本信息与检测标准 • 盘片信息 光盘的信息区含有预刻槽，预刻槽含有恒线速度 CLV 时钟信息、时间编码和其他相关信息。部分记录盘的信息区分为以下部分：功率校准区 PCA 、程序记忆区 PMA 、导入区 LIA 、程序区 LOA 和未记录区 URA 。 • 常 规 检 测 参 数 常 规 检 测 参 数 分为两 大 类 。一 类 是 CD-R 机 械 尺 寸 检 测 参 数（ 表 一 ）；另 一 类 是 CD-R 光电 参 数 检 测 参 数 。本 文 主 要 介 绍 光电 参 数 检 测 参数 。 CD-R 光电 检 测 参 数 分为以下三 类 • 全 部区域 参 数 偏 心 ECC 、 径 向 躁 声 RN 、垂 直 偏 差 DEV 、盘片 双 折 射 率 BIR 、盘片 不 平 衡 度 U d, ； • 未记录区参 数 归 一 化 摆 动 幅 度 NWA 、 ATIP 错 误 率 ATER 、 ATIP 突 发 错 误长 度 ABERL 、记录前 径 向 对 比 度 RC b ； • 记录区参 数 圆 偏 振 光测 量 的推 挽 信号 PPC 、串 扰 XT 、记录后 径 向 对 比 度 RC b 、归 一 化 高 频 信号 I 11 R 、归 一 化 高 频 信号 I 3 R 、对 称 性 SYM 、反射率 R top 、块错误率 BLER 、 C1 帧突发错误长度 BERL ，抖晃 JnP （...
