这篇文章从各方面详细介绍了ISO/IEC14443 标准. 第一部分：物理特性 1．范围 ISO/IEC14443 的这一部分规定了邻近卡（PICC）的物理特性。它应用于在耦合设备附近操作的ID－1 型识别卡。 ISO/IEC14443 的这一部分应与正在制定的ISO/IEC14443 后续部分关联使用。 2．标准引用 下列标准中所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用 ISO/IEC14443 这一部分的各方应探讨使用下列最新版本标准的可能性。 ISO 和 IEC 的成员修订当前有效国际标准的纪录。 ISO/IEC7810：1995，识别卡——物理特性。 ISO/IEC10373，识别卡——测试方法。 3．定义，缩略语和符号 3.1 定义 下列定义适用于 ISO/IEC14443 的这一部分： 3.1.1 集成电路 Integratedcircuit(s)（IC）： 用于执行处理和/或存储功能的电子器件。 3.1.2 无触点的Contactless： 完成与卡的信号交换和给卡提供能量，而无需使用微电元件（即：从外部接口设备到卡上的集成电路之间没有直接路径）。 3.1.3 无触点集成电路卡Contactlessintegratedcircuit(s)card： 一种 ID－1 型卡类型（如 ISO/IEC7810 中所规定），在它上面有集成电路，并且与集成电路的通信是用无触点的方式完成的。 3.1.4 邻近卡Proximitycard（PICC） 一种 ID－1 型卡，在它上面有集成电路和耦合工具，并且与集成电路的通信是通过与邻近耦合设备电感耦合完成的。 3.1.5 邻近耦合设备 Proximitycouplingdevice（PCD） 用电感耦合给邻近卡提供能量并控制与邻近卡的数据交换的读/写设备。 4．物理特性 4.1 一般特性 邻近卡应有根据 ISO/IEC7810 中规定的ID－1 型卡的规格的物理特性。 4.2 尺寸 邻近卡的额定尺寸应是 ISO/IEC7810 中规定的ID－1 型卡的尺寸。 4.3 附加特性 4.3.1 紫外线 ISO/IEC14443 的这一部分排除了大于海平面普通日光中的紫外线的紫外线水平的防护需求，超过周围紫外线水平的防护应是卡制造商的责任。 4.3.2X－射线 卡的任何一面曝光 0.1Gy剂量，相当于 100KV 的中等能量 X—射线（每年的累积剂量），应不引起卡的失效。 注 1：这相当于人暴露其中能接受的最大值的年累积剂量的近似两倍。 4.3.3 动态弯曲应力 按 ISO/IEC10373 中描述的测试方法（短边和长边的最大偏移为 hwA=20mm，hwB=10mm）测试后，邻近卡应能继续正常工作。 4.3.4 动态扭曲应力 按ISO/...
