JATG 简介 A. JTAG 简述 JTAG - Joint Test Active Group 是一种国际标准测试协议(IEEE1149.1 兼容) , 主要用于芯片内部测试. 现在多数高级器件都支持 JTAG 协议,如 DSP,FPGA 器件等.标准的 JTAG 接口是4 线: TMS - TCK - TDI -TDO , 分别为模式选择,时钟,数据输入,数据输出线 . JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义了一个TAP(Test Access Port),通过专用的 JTAG 测试工具对内部节点进行测试. JTAG 测试允许多个器件通过 JTAG 接口串联在一起,形成一个 JTAG 链, 能实现对各个器件分别测试. 现在 JTAG 接口还常用于实现 ISP 等,对 FLASH 等器件进行编程. JTAG 编程方式是在线编程,传统生产方式中对芯片进行预编程先再装到板子上因此而改变,简化的流程为先固定器件到电路板上,再用 JTAG 编程,从而大大加快工程进度. JTAG 接口可对 PSD 芯片内部的所有部件进行编程. 具有 JTAG 接口的芯片都有下列引脚定义. TCK : 测试时钟输入 . TDI: 测试数据输入,数据通过 TDI输入 JTAG 口. TDO:测试数据输出，数据通过 TDO 从 JTAG 口输出． TMS:测试模式选择，TMS 用来设置 JTAG 口处于某种特定的测试模式．可选引脚 TRST:测试复位，输入引脚，低电平有效. 含有 JTAG接口的芯片种类比较多：CPU , DSP ,CPLD 等．JTAG 内部有一个状态机，称为 TAP 控制器．TAP 控制器的状态机通过 TCK 和 TMS 进行状态的改变，实现数据和指令的输入． JTAG 标准定义了一个串行的移位寄存器，寄存器的每一个单元分配给 IC 芯片的相应引脚，每一个独立的单元称为 BSC(Boundary-Scan Cell)边界扫描单元．这个串联的 BSC 在 IC 内部构成了 JTAG 回路，所有的 BSR(Boundary-Scan-Register) 通过 JTAG 测试激活，平时这些引脚保持正常的 IC 功能． 以含有 JTAG 接口的 StrongARM SA1110 为例，Flash 为 intel 的 28F128J32 16M 的容量．SA1110的 JTAG 的 TCK,TMS,TDI,TDO 分别接 PC 并口的 2,3,4,11 线上，通过程序对 JTAG 口的控制指令和目标代码从 PC 的并口写入 JTAG 的 BSR 中．在设计 PCB 时必须将 SA1110 的数据线，地址线及控制线与FLASH 的地址线，数据线，控制线相连．因 SA1110 的数据线，地址线及控制线引脚上都有相应的 BSC,只要用 JTAG 指令将数据，地址及控制信号送到其 BSC 中，...
