基于 UltraFLEX 的 LVDS 性能测试中国电子科技集团第五十八讨论所 张凯虹,武乾文,章慧彬摘要:本文主要介绍快速、全面、连续的测试带有 LVDS 信号芯片的测试方法
基于UltraFLEX、示波器与任意信号发生器,对 LVDS 信号特性进行了分析
系统中,UltraFLEX完成信号发送、一般特性参数与功能测试;示波器完成 LVDS 输出信号分析;任意信号发生器完成信号输入、抖动注入等操作
该方法实现了一键操作完成所有参数测试,大大降低测试成本
关键词:LVDS;UltraFLEX;抖动;眼图;The test of LVDS based on UltraFLEXChina Electronics Technology Group Corporation ZHANG Kaihong, WU Qianwen, ZHANG HuibinAbstract : This paper introduces how to test the chip with LVDS rapidly , comprehensively , successively
Base on UltraFLEX , oscilloscope and an arbitrary signal generator, the LVDS signal characteristics are analyzed
In this system, UltraFLEX completes signaling , functional verification ; the general parameters and functional tests; Oscilloscope finishes analysis of the LVDS output signal; Arbitrary signal generator