SZT-D粉末电阻率测试台操作说明书VIP免费

SZT-D型半导体粉末电阻率测试台(配ST-2258A多功能数字式四探针测试仪)操作使用说明书苏州晶格电子有限公司注意：敬请用户在操作使用SZT-D型半导体粉末电阻率测试台之前，必须详细阅读技术使用说明书！并妥善保存。1图2-1测试台结构部件名称SZT-D型半导体粉末电阻率测试台操作说明书一、概述本测试台参照有关国际标准进行设计，可以对半导体粉末、高分子纳米粉末和固态金属粉末进行电阻、电阻率多用途的测量。组成及特点：测试台为探头、加压机构、粉末标准容器、压力检测、厚度检测等单元组成。压力机构采用手动操作，压力平稳可调，电子数码显示压力值。本仪器可一边加压同步测试，可方便测试不同压力下粉末的导电性能曲线，也可以单独作为粉末压制成片的工具使用，成片后可脱模取出，用普通四探针法测试相关参数！本仪器具有测量精度高，操作简便、稳定性好，重复性好，一机多用使用方便等特点。本仪器采用国际通用的电流、电压四端子测量法（两个电流和电压电极同时和样品接触），可以消除电极与导线导通电阻产生的误差，克服了传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，2可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。测试参数时同步检测压力和高度，也是区别于以往旧款同类测试台新特点！便于研究材料的特性曲线！本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。二、主要技术指标：1、试样粒度：40目以下（标准筛网）2、试样容器：内经：Φ11.28mm（S=1.0cm2）高度：0～20mm可调,带高度尺监测，测量误差：±0.02mm。3、测试压强标准压强：P0=4Mpa±0.05Mpa，合压力40kg±0.5kg(S=1.0cm2)。压强量程：10Mpa,P=0～10Mpa可调，合压力0～100Kg,(S=1.0cm2)4、压力机构采用手动操作、压力平稳可调。电子数码显示压力值！四位有效显示数0～200Kg，分别率±0.1kg！5、测试台外形：250mm（前宽）×220mm（后长）×540mm（总高）重量：10Kg6、测试台结构部件名称如图2-1.三、操作说明：1联机准备如右图连接SZT-D型半导体粉末电阻率测试台和ST2258A型四探针测试仪，如图3-1A联机操作图。顺时针旋转手轮抬起上电极，测试台压力降到零，露出装料容腔,如图3-1B。图3-1A联机操作图图3-1B2加料操作A注备：先摇动手轮使上电极调到较高位置，远离加料腔的工作台面，便于加料。如图3-1B。图3-2控制加料腔中加料深度图3-3加料B调整加料腔深度，控制加料量：如图3-2，调节深度（料高）调节螺母，同时观察深度尺读数，以控制加料腔中加料深度。3注意，深度尺的零位为10.00cm刻度处，如读数为11.00cm,则加料腔深度为1.00cm。深度控制在0.50～2.00cm为宜。C加料：如图3-3,用所配的小勺子取粉末样品加入加料腔，每次小心适量，直至加满稍溢满，然后用小勺子稍压实、压平，如图3-4,然后用刷子扫净容腔边缘台面上多余样品料，清洁台面。如图3-5。图3-4压实料图3-5清洁台面3加压操作逆时针转动手轮，压下上电极。上电极压至台面时样品开始受压，数码压力表显示压力值开始明显上升，如图3-6A,图3-6B,图3-6A加压图3-6B压力显示3读取样品当前高度，求修正系数如当前压强P=20MPa,即压力值F=20.0Kg,(S=1cm2)。如图3-6B。如图3-7，读取样品高度为:H=10.50cm-10.00cm=0.50cm=5.0mm查附表粉末电阻率测试修正系数表查5.0mm行和0.0mm列，得修正系数K=2.000图3-7，读取样品高度4设定仪器修正系数，测试样品电阻率值如图3-8A仪器在设定档，设定修正系数F=K=2.000,转测试挡，读取电阻率值，如图3-8B.电阻率ρ=10.24Ω-cm.4图3-8A设定修正系数3-8B读取电阻率值***一般行业标准压强取P=40.0MPa,即F=40.0Kg,测试方法同上*****5出料（退片）测试参数完毕，顺时针转动手轮，上升上电极，如图3-9出料准备，可见已经被压实的料片。把样料退出容腔的出料方法有两种，一是如图3-10，把退料器喇叭口朝上扣在上电极下端，逆时针转动手轮，用上电极下压退料器及台面，用下电极顶出料片，注意观察高度计，直到显示容腔深度为-0.1cm=-1mm,再回升上电极，向上拿掉退料器，可见退出容腔的成形料片，如图3-11出料完毕。图3-9出料准备如图3-10退料器法...