锂离子电池的电化学阻抗谱分析 1
锂 离 子 电 池 的 特 点 锂离子电池充电时,正极中的锂离子从基体脱出,嵌入负极;而放电时,锂离子会从负极中脱出,嵌入正极
因此锂离子电池正负极材料的充放电容量、循环稳定性能和充放电倍率等重要特性均与锂离子在嵌合物电极材料中的脱出和嵌入过程密切相关
这些过程可以很好地从电化学阻抗谱(EIS)的测量与解析中体现出来
电 化学阻抗谱的 解析 2
高 频 谱 解 析 嵌合物电极的EIS谱的高频区域是与锂离子通过活性材料颗粒表面 SEI膜的扩散迁移相关的半圆(高频区域半圆),可用一个并联电路 RSEI/CSEI 表示
RSEI 和 CSEI 是表征锂离子活性材料颗粒表面 SEI 膜扩散迁移过程的基本参数,如何理解 RSEI和 CSEI与 SEI 膜的厚度、时间、温度的关系,是应用 EIS 研究锂离子通过活性材料颗粒表面 SEI 膜扩散过程的基础
高 频 谱 解 析 RSEI 和 CSEI与 SEI 膜厚度的关系 SEI 膜的电阻RSEI和电容CSEI与 SEI 膜的电导率、介电常数的关系可用简单的金属导线的电阻公式和平行板电容器的电容公式表达出来 SlRSEI (1) lSCSEI (2) 以上两式中S为电极的表面积,l为 SEI 膜的厚度
倘若锂离子在嵌合物电极的嵌入和脱出过程中、和 S 变化较小,那么 RSEI 的增大和 CSEI 的减小就意味着SEI 厚度的增加
由此根据 RSEI和 CSEI 的变化,可以预测 SEI 膜的形成和增长情况(这是理解高频容抗弧的关键)
SEI 膜的生长规律(RSEI与时间的关系) 嵌合物电极的SEI膜的生长规律源于对金属锂表面 SEI膜的生长规律的分析而获得
对金属锂电极而言,SEI 膜的生长过程可分为两种极端情况:(A)锂电极表面的 SE