晶圆外延层电阻率无损测试仪方案设计摘 要电阻率作为半导体材料中一个很重要的性能指标,通过对它的测量可以得到材料的掺杂浓度等众多重要...
A。晶圆封装测试工序一、 IC 检测 1. 缺陷检查 Defect Inspection 2。 DR-SEM(Defect Review Scanning Electron Microscopy) ...
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半 导 体 芯 片 、晶 圆 、LED芯 片 、外 延 、TFT-LDE制 程 冷 却 水 ( PCW)系 统 施 工 规 范 目 录 1.一 ...
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设计理想的晶圆凸起网板印刷工艺目前,业界有几种技术可用于在晶圆的焊垫上涂敷焊料混合物,这种技术被称之为晶圆凸起工艺。采用网板印刷进...
引言引言集成电路按生产过程分类可归纳为前道测集成电路按生产过程分类可归纳为前道测试和后到测试;集成电路测试技术员必须试和后到测试...
半导体晶圆激光划片工艺介绍武汉华工激光工程有限责任公司WuhanHuagongLaserEngineeringCO.,Ltd.18171507176目录•名词解释•应用范围•传...