1 电子电路仿真应用手册 2009 年6 月 前言 本手册基于Mu ltisim V7 仿真环境，从最基本的仿真电路图的建立开始，结合实际的例子，对模拟和数字电路中常用的测试方法进行介绍。这些应用示例包括：常用半导体器件特性曲线的测试、放大电路静态工作点和动态参数的测试、电压传输特性的测试、波形上升时间的测试、逻辑函数的转换与化简、逻辑分析仪的使用方法等。 更高版本的Mu ltisim 仿真环境与之类似。此外，本手册侧重于测试方法的介绍，仅对主要步骤进行说明，如碰到更细节的问题，可参阅《Mu ltisim V7 教学版使用说明书》或其它帮助文档。 目录 1 Mu ltisim 主界面简介...................................................................................2 2 仿真电路图的建立......................................................................................2 3 常用半导体器件特性曲线的测试方法................................................................3 3.1 晶体三极管特性曲线的测试.....................................................................3 3.1.1 IV 分析仪测试方法............................................................................3 3.1.2 直流扫描分析方法............................................................................ 3 3.2 结型场效应管特性曲线的测试...................................................................4 3.2.1 IV 分析仪测试方法............................................................................ 4 3.2.2 直流扫描分析方法.........................................................................................................4 3.3 二极管、稳压管伏安特性曲线的测试................................................................................5 4 放大电路静态工作点的测试方法................................................................................................5 4.1 虚拟仪器测试方法................................................................................................................5 4.2 静态工作点分析方法.................................................................................................
