统计过程控制（SPC）案例分析 一． 用途 1
分析判断生产过程的稳定性，生产过程处于统计控制状态
2．及时发现生产过程中的异常现象和缓慢变异，预防不合格品产生
3．查明生产设备和工艺装备的实际精度，以便作出正确的技术决定
4．为评定产品质量提供依据
二．控制图的基本格式 1．标题部分 X-R 控制图数据表 产品名称 工作指令编号 收集数 据期间 质量特性 车间 观察方法 规定日产量 设备编号 规格界限（或要求） Tu 抽 样 间隔 操作 人员 Tl 数量 作业指导书编号 仪器编号 检验人员 生产过程 质量要求 日期 时间 样本号 测 定 值 均值 极差 R 备注 X1 X2 X3 X4 X5 计算： 图：CL= R 图：CL= UCL= + UCL= LCL= - LCL= 在方格纸上作出控制图： 控制图 图 R 图 说明 操作人 班组长 质量工程师 横坐标为样本序号，纵坐标为产品质量特性
图上有三条平行线： 实线 CL：中心线 虚线 UCL：上控制界限线 LCL：下控制界限线
三． 控制图的设计原理 1． 正态性假设：绝大多数质量特性值服从或近似服从正态分布
2． 3 准则：99
3． 小概率事件原理：小概率事件一般是不会发生的
4． 反证法思想
四． 控制图的种类 1． 按产品质量的特性分（1）计量值（ ） （2）计数值（p，pn，u，c 图）
2． 按控制图的用途分：（1）分析用控制图；（2）控制用控制图
五． 控制图的判断规则 1． 分析用控制图： 规则 1 判稳准则-----绝大多数点子在控制界限线内（3 种情况）； 规则 2 判异准则-----排列无下述现象（8 种情况）
2． 控制用控制图： 规则 1 每一个点子均落在控制界限内
规则 2 控制界限内点子的排列无异常现象
[案例 1] p 控制图 某半导体器件厂 2 月份
