1 标准号: 美国国家标准 测定平均晶粒度的标准试验方法 1 本标准用固定的标准号E112 发布
紧跟在标准号后面的数字表示最初采用的年份,或者在修订时为最后修订的年份
括号中的数字表示最后一次重新审定的年份
上标表示自最后一次修订或重新审定以来的编辑修改
本标准已被批准供国防部的机构使用
注— 方程A1
5 和 A1
6 于 2000 年4 月作了编辑修改
注— 2003 年2 月对附件给予了新的编号
前言 这些测定金属材料中平均晶粒度的试验方法主要是测量程序,由于它们纯粹以晶粒几何图形为基础,因此与涉及的金属或合金无关
实际上,基本程序也可用于评估非金属材料中的晶粒、晶体或晶胞的平均尺寸
如果材料的组织形貌接近某一标准评级图,可使用比较法
截点法和面积法始终适用于测定平均晶粒度
但比较法不能用于测量单个晶体
1 本试验方法涉及平均晶粒度的测量,包括比较法、面积法(或Jeffrics 法)和截点法
本试验方法也可应用于组织形貌与评级图中所示金属组织的形貌相似的非金属材料
本试验方法主要适用于单相晶粒组织,但也可应用于多相或多组元的试样中特定类型晶粒组织的平均尺寸的测定
2 本试验方法使用晶粒面积、晶粒直径、或截线长度的单峰分布来测定试样的平均晶粒度
这些分布近似正态分布
本试验方法不涉及表征这些分布的性质的方法
试样中双峰分布的晶粒度的表征在试验方法 E1181 中叙述
细晶粒基体中单个非常粗晶粒的测量在试验方法 E930 中叙述
3 本试验方法仅适用于平面晶粒度的测量,也就是试样截面显示出的二维晶粒
立体晶粒尺寸的测量,即试样体积中三维晶粒尺寸的测量不在本试验方法的范围以内
________ 1 本试验方法受 ASTM 关于金相学的E04 委员会管辖,并由关于晶粒度的E04
08 分委员会直接负责
现行版本于 1