磁阻式隨機存取記憶體技術的發展—現在與未來文/葉林秀、李佳謀、徐明豐、吳德和一、前言1988年由Baibich等人發現巨磁阻(GiantMagnetoresistance;GMR)[1]的特性時,一開始之研究中發現在室溫下巨磁阻的磁電阻變化並不大,且必須在很低的溫度下才能夠有較大的磁電阻變化,因而其實用性並不大
而此研究中的巨磁阻結構主要是由兩層鐵磁性金屬層(ferromagneticmetals)中間夾一層金屬層所構成,在無外加磁場下鐵磁膜間的磁矩是反鐵磁性偶合(anti-ferromagneticcoupling)的狀態,而當外加一強磁場時所有的磁矩都以平行磁場方向排列,磁阻的變化便是指在這兩個狀態下的磁電阻差別,剛開始GMR的特性被用在磁感測元件上[2-4],直到1997年後才被廣泛應用於磁記錄讀取頭上以提高磁記錄的密度
而1995年TMR穿隧磁阻(TunnelingMagnetoresistance;TMR)[5]特性的發現將自旋電子的世界推向另一個嶄新的未來,TMR結構為兩層磁性層中間夾一層極薄的絕緣層,同樣在室溫條件下其產生的磁阻變化遠大於GMR,且中間絕緣層的夾層一般只需厚度1nm~1
5nm的Al2O3[6]
這兩種特性的發現成就了夢幻記憶體MRAM(MagneticRandomAccessMemory;MRAM)的產生,該記憶體是一種利用具高敏感度的磁電阻材料所製造的記憶體,是一種新穎的非揮發性(Non-Volatile)記憶體,其特性在於此記憶體不論是在寫入或讀取的速度[7-9](約為10ns)上皆可媲美靜態隨機存取記憶體(StaticRandomAccessMemory;SRAM);同時在記憶容量(約為1GB)方面更可與動態隨機存取記憶體(DynamicRandomAccessMemory;DRAM)相抗衡,將來並可提升密度以及速度一數量級以上