电阻法测相变点动态测试电阻设备的研究摘要:形状记忆合金相变点的测定方法常用的有变温X射线法、热分析法、膨胀法和电阻法
电阻法由于精度高,电路也比较简单,测量过程对试样的影响小,速度快,所以被广泛采用
本文对用电阻法测量形变点动态电阻的设备进行了详细深入的研究,从测量系统的总体设计,测量系统的设计原理及其硬件电路设计三个方面进行探讨,比较了不同设计方案的优缺点,并对最终选用的测试电阻设备进行了改进和评估
关键词:形状记忆合金,电阻法,测量设备设计与改进形状记忆合金(ShapeMemoryAlloys,SMA)因为其记忆效应和超弹性,正得到日益广泛的应用
形状记忆合金相变点的测定方法常用的有变温X射线法、热分析法、膨胀法和电阻法
[1]根据电阻法所测得的曲线在相变点处电阻发生非常明显的变化,比较容易测出相变点
由于电阻法精度高,电路也比较简单,测量过程对试样的影响小,速度快,其中以微机为核心的形状记忆合金相变点测试系统,更提高了电阻法测量形状记忆合金相变点的精度、灵敏度和稳定性,所以被广泛采用
形状记忆合金相变时,会引起一些物理性能变化,其中包括电阻率的变化
即:马氏体转变时电阻率与其母相的电阻率不同,其电阻率会随温度的变化而变化
因此可以通过形状记忆合金相变时其电阻与温度的关系确定其相变点
电阻法测形状记忆合金相变点一般采用X-Y函数记录仪法,该方法是用温度信号驱动X轴,用电阻信号驱动Y轴,这样在一个温度循环过程中便会画出一条温度-电阻曲线,形状记忆合金相变温度主要包括,As:加热时马氏体逆转变的开始温度;Af:马氏体逆转变的终了温度;Ms:冷却时马氏体转变的开始温度;Mf:马氏体转变的终了温度
[1]根据曲线的特征人工找出Ms、Mf、As、Af及滞后宽度
但这种方法找特征点时存在读数误差,存储和查询不方便,没有数据处理的功能
微机测试系统则克服了以上缺点,能精确地绘制出相变