设计用于测试电子或机电装置的开关系统，就像 设计那些装置本身一样，会存在许多问题。现代测试系 统有许多用于激励或测量 DUT 的信号线和电源线，以 及用于自动连接的各种开关。因此在一个多点开关系 统中，激励、电源和其它信号的交互作用可能会产生对 测量的噪声和干扰。 噪声问题只有三个组成部分。噪声问题必然存在 一个噪声源，它耦合至对噪声敏感的接收器。为解决噪 声问题，首先要确定噪声源，然后要确定噪声接收点， 最后是确定噪声的耦合方法。这并非神秘莫测的过程， 而是有需可靠遵循的物理规则。有时源和耦合方法可 能非常微妙，但绝不会违反基本规则。 通常，工程师会在设计一个系统至另一系统的信 号路径上花大量精力，但往往忽视返回路径。正确设计 的系统应有经定义的信号路径和返回路径，需要用这 两者建立工作系统。如果在设计中忽略返回路径，跟踪 噪声问题的任务将是极为困难的。返回路径的不良设 计可能改变系统其它部分。改变的返回路径可能表现 为间歇性的问题，出现难以理解的有害噪声。 图 1 示出通用的测试系统体系结构。开关是整个 系统的中心，它把许多测试点接到测量仪器，提供信号 路由和为 DUT 加电。但它也是许多，有时是无法说明 的测量误差来源，相近的许多互连提供了噪声耦合的 大量机会。 需要测试装置中出现的较高速逻辑，它与更灵敏 的模拟电路一起，要求对开关系统作精心的设计和实 现，以降低噪声和保持信号完整性。 这是为需要构建测试系统的工程师编写的应用指 南。着重讲解在把商业化的开关产品和仪器集成至测 试系统时，如何降低噪声耦合问题。 设计测试系统时，需要了解测试信号的频率和幅 度，以及测试仪器、开关系统和 DUT 的输入和输出特 性。本应用指南所介绍的降低噪声技术适用于信号频 率低于 300MHz，电压低于 250V，电流低于 5A，以及 伏特赫兹乘积小于 107 的情况。如果没有其它参照，不 推荐把这些解决方案外推到更高幅度或更高频率。测试系统中的噪声源 对测试工程师来说，了解系统中有害噪声的来源 是极为重要的。一张设计规则表能帮助降低有害噪声， 但对于了解噪声来自何处则是很不够的。在专用于测 试电子模块的电子测试系统中，造成噪声的最重要原 因是传导性耦合、公共阻抗耦合，以及电场和磁场。除 了这些噪声源外，一些系统还对来自电流效应、热偶噪 声、电解效应、静电效应和导体运动的噪声感应。 噪声最容易耦合进电...
