SPC统计制程品管

量测系统（量具之变异在可允许之范围内）品质之决定进料检验完工检验制程能力分析双边规格单边规格（品质特性质）计量值从← X ， σ←S计数值 P←PCaCpCpkP( 不良率 )量测系统品质之决定制程管制制程能力分析品质特性质计量值从 -X-R,X-6,X-R,X-Rm计数值 -Pm,P,C,U,D新速管制图雅式管制图CaCpCpkP( 不良率 )不同单位之品质比较，使用 Cv （变异系数） =S/X（或同一单位，但不同品质特性质）精品文档---下载后可任意编辑(统计制程管制)一、管制图之选用精品文档---下载后可任意编辑以管制图进行制程能力分析一组数据之变化情形，除了可以用图形法来表示外，数量化之描述亦以提供有用之情报。数据之量化表示有很多种，常用的有平均数（mean）、中位数（median）、众数（mode）、变异数（variance）、标准差（standard deviation）。1. 平均数假设 X1，X2，…，Xn 为样本中之观测值，样本数据之集中趋势可由样本平均数来衡量，样本平均数定义为¯X= X1+ X2+¿⋅¿+ Xnn=∑i=1nXin2. 变异数变异数是用来衡量数据之散布情形。样本变异数 S2为S2=∑i=1n( Xi− ¯X)2n−1=∑i−1nX i2−(∑i=1nXi)2nn−1精品文档---下载后可任意编辑计数值管制图1．不良率管制图（p chart）CLp=¯p=∑ d∑ nUCLp=¯p+3√¯p(1−¯p)nLCLp=¯p−3√¯p(1−¯p)n2. 不良数管制图(pn chart)CLpn=n ¯p=¯d=∑ dkUCLpn=n ¯p+3√n ¯p(1−¯p)LCLpn=n ¯p−3√n ¯p(1−¯p)(σpn=√n ¯p(1−¯p))3．缺点数管制图（c chart），样本大小相同CLc=∑ Ck=¯CUCLc=¯C+3√¯CLCLc=¯C−3√¯C4．单位缺点数（u chart），样本大小不相同CLu=¯u=∑ C∑ nUCLu=¯u+3√¯unLCLu=¯u−3√¯un精品文档---下载后可任意编辑计量值管制图¯X−R管制图管制图类别群体之 μ 及 σ 未知时群体之 μ 及 σ 已知时平均值管制图CLx=XUCLX=X+A2 ¯RLCLX=X−A2SCLX=μUCLX=μ+ AσLCLX=μ−Aσ全距管制图CLR=¯RUCLR=D4 ¯RLCLR=D3 ¯RCLR=d2σUCLR=D2σLCLR=D1σ-S 管制界限公式图别群体情况未知群体情况已知平均值管制图CLX=¯XUCLx=X+A3¯SLCLX=¯X−A3¯SCLX=μUCLX=μ+AσLCLX=μ-Aσ标准差管制图CLs=¯SUCLs=B4 ¯SLCLs=B3¯SCLS=C2σUCLS=B2σLCLS=B1σ~X−R 管制图图别群体情况未知群体情况已知中位值管制图CL~X=∑~Xk=~XUCL~X=~X+m3 A 2 ¯RLCL~X=~X−m3 A2 ¯RCLX=μUCLx=~X+3m3σ√nLCL¯x=~X−3m3σ√n全距管制图CLn=...