Jitter 寻根溯源 －译自《Finding Sources of Jitter with Real-Time Jitter Analysis》 Agilent Application Note 1448-2 邵 鹏 IBM 集成电路设计中心 2009 年 前言： 工作于高速设计领域十年有余，工作的时间越长，觉得要学习的东西就越多。这十年间，从PCI 到PCIExpress2.0，USB 到USB3.0，SDRAM到DDR3，从几十MHz 的并行总线到6.25GHz，甚至12GHz 的高速差分连接，新的总线、接口形式层出不穷。尤其在高速系统设计中需要考虑的因素越来越多，相应的测试仪器和测试手段也不断推陈出新，测试的项目和仪器功能也越来越单一化和专项化。这就需要我们在高速系统设计中具有扎实的理论基础，不论是在设计还是测试过程中始终要保持清醒的头脑，对系统中出现的各种现象和相关因素有比较清晰的分析脉络。 抖动（Jitter ）对高速系统的性能影响越来越大。在众多的介绍抖动测量的技术文章中，译者认为这篇文章结构清晰流畅，内容详实完整，对于设计工作有比较大的指导价值，推荐给各位同行。本文原文为英文版本，译者初次阅读时感觉比较吃力，所以于工作闲暇之余，将之翻译成中文，抛砖给各位同行，希望能节省一些您的时间。不过，如果读者有能力，还是推荐读原文，以免在我的翻译（包括非正规的术语，笔误等）误导您。因为这毕竟不是正规出版物，仅仅是出于个人爱好，用于技术交流之用。 本文从抖动的外在表现形式出发，结合仪器的使用，着重于对抖动的来源进行分析和测量，并没有过多介绍抖动内在物理参数的数学理论分析，对于这部分内容，可以参照本文的姊妹篇《Measuring Jitter in Digital Systems－AN1448-1》。由于时间的关系，先翻译姊妹篇的后一篇，也是因为这篇文章具有更强的实际指导意义，如果大家反映比较好，随后再翻译第一篇。 声明： 本译文译自Agilent 科技公司的应用文档。本译文仅从技术交流的目的出发，不用于任何出版等商业目的。如果 Agilent 公司认为此行为影响到该公司的商业利益，请联系本人解决，谢谢。 Email: Shaopeng@cn.ibm.com 随着数据速率的提高，抖动（Jitter）对系统的影响变得越来越重要，抖动余度的设计空间也越来越紧张。类似于误码率测试仪 BERT（BitErrorRatioTester）等测试仪器用来测量高速数字系统中全部抖动（以下简称 TJ）和眼图睁开的最坏情况，并依据工业标准给出符合性测试结果。另外，一些实时的仪器可以分辨随机性和确定性抖动成份，并以此来推测最坏情...
