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JTAG边界扫描在FPGA中的应用及电路设计的开题报告

JTAG边界扫描在FPGA中的应用及电路设计的开题报告_第1页
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精品文档---下载后可任意编辑JTAG 边界扫描在 FPGA 中的应用及电路设计的开题报告一、选题背景随着 FPGA 在工业控制、航空航天、新能源等领域的广泛应用,对 FPGA 的测试和调试技术提出了更高的要求。作为主流 FPGA 测试和调试方法,JTAG(Joint Test Action Group)边界扫描技术已经成为了 FPGA 测试和调试中重要的手段之一。JTAG 边界扫描技术通过一系列的扫描方式完成对 FPGA 芯片的测试和调试,为 FPGA芯片的设计和调试提供了极大的方便性和灵活性。二、论文目的本文选取 JTAG 边界扫描作为讨论课题,探究 JTAG 边界扫描在 FPGA 设计中的应用及其电路设计。主要讨论内容包括:介绍 JTAG 边界扫描技术的原理;探究 JTAG边界扫描在 FPGA 设计中的应用;讨论 JTAG 边界扫描电路设计的关键技术;通过实验验证讨论结果的有效性。三、论文内容1. JTAG 边界扫描技术的原理及应用。2. JTAG 边界扫描在 FPGA 设计中的应用及优点分析。3. JTAG 边界扫描电路设计的原理与关键技术分析与讨论,包括电路框架设计、时序分析、扫描链加入维护及 SPG 控制等。4. 实验部分,通过构建 JTAG 边界扫描电路实现其在 FPGA 测试和调试中的应用。通过实验验证讨论结果的有效性。四、参考文献[1] Zhou Dishan. 面对 FPGA 的 JTAG 边界扫描技术讨论[D]. 浙江大学, 2024.[2] 张鑫. 基于 JTAG 边界扫描的 FPGA 验证技术讨论[D]. 天津大学, 2024.[3] Aicha Mokhtari, Samir Ben Ahmed, Billal Nsiri, et al. JTAG Boundary Scan based Testing for FPGA [J]. International Journal of Communications, Network and System Sciences, 2024, 10(1): 1-15.[4] Saheli Roy Chowdhury, Debdeep Mukhopadhyay. Improved fault coverage analysis of JTAG boundary scan testing for FPGA improvements in the hardware implementations[C]. 2024 International Conference on Wireless Communications, Signal Processing and Networking (WiSPNET), 1-5.[5] Adarsh Singh, Kaushik Ghosh. A Comparative Study of JTAG and BIST Based Testing of FPGA[J]. Journal of Intelligent Systems, 2024, 27(3): 357-371.

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