JTAG边界扫描在FPGA中的应用及电路设计的开题报告

精品文档---下载后可任意编辑JTAG 边界扫描在 FPGA 中的应用及电路设计的开题报告一、选题背景随着 FPGA 在工业控制、航空航天、新能源等领域的广泛应用，对 FPGA 的测试和调试技术提出了更高的要求。作为主流 FPGA 测试和调试方法，JTAG（Joint Test Action Group）边界扫描技术已经成为了 FPGA 测试和调试中重要的手段之一。JTAG 边界扫描技术通过一系列的扫描方式完成对 FPGA 芯片的测试和调试，为 FPGA芯片的设计和调试提供了极大的方便性和灵活性。二、论文目的本文选取 JTAG 边界扫描作为讨论课题，探究 JTAG 边界扫描在 FPGA 设计中的应用及其电路设计。主要讨论内容包括：介绍 JTAG 边界扫描技术的原理；探究 JTAG边界扫描在 FPGA 设计中的应用；讨论 JTAG 边界扫描电路设计的关键技术；通过实验验证讨论结果的有效性。三、论文内容1. JTAG 边界扫描技术的原理及应用。2. JTAG 边界扫描在 FPGA 设计中的应用及优点分析。3. JTAG 边界扫描电路设计的原理与关键技术分析与讨论，包括电路框架设计、时序分析、扫描链加入维护及 SPG 控制等。4. 实验部分，通过构建 JTAG 边界扫描电路实现其在 FPGA 测试和调试中的应用。通过实验验证讨论结果的有效性。四、参考文献[1] Zhou Dishan. 面对 FPGA 的 JTAG 边界扫描技术讨论[D]. 浙江大学, 2024.[2] 张鑫. 基于 JTAG 边界扫描的 FPGA 验证技术讨论[D]. 天津大学, 2024.[3] Aicha Mokhtari, Samir Ben Ahmed, Billal Nsiri, et al. JTAG Boundary Scan based Testing for FPGA [J]. International Journal of Communications, Network and System Sciences, 2024, 10(1): 1-15.[4] Saheli Roy Chowdhury, Debdeep Mukhopadhyay. Improved fault coverage analysis of JTAG boundary scan testing for FPGA improvements in the hardware implementations[C]. 2024 International Conference on Wireless Communications, Signal Processing and Networking (WiSPNET), 1-5.[5] Adarsh Singh, Kaushik Ghosh. A Comparative Study of JTAG and BIST Based Testing of FPGA[J]. Journal of Intelligent Systems, 2024, 27(3): 357-371.