SPC 统计制程管制中 PPK 与 CPK 的区别与联系区别:1.PPK 是指初期制程能力指数,即产品在试产阶段,尚未大批量生产,制程尚不稳定的情况下(人﹑机﹑料﹑法﹑环等因素变化较大)，反映当前的初期制程能力，在此种情况下，包括产品本身设计还尚不够成熟，假如计算出的 PPK值偏小，除检讨制程外，还可能变化产品规格．在制程初期，绘制出管制图，假如不能连续２５点都在控制界限内，则只能使用 PPK，否则会高估制程能力而成误判．2.CPK 是批稳定制程能力指数，即产品在量产后一段时期，制程十分稳定的情况下(人﹑机﹑料﹑法﹑环等制程因素稳定，变化小)，反映长期制程能力．并判定制程是否稳定，要控制图连续在２５点都在控制界限内，方可使用CPK.联系:PPK 与 CPK 值计算的方式相同，即：PPK﹑CPK=MIN . 双边规格.PPK﹑CPK= 只有下规格. PPK﹑CPK= 只有上规格 . 针对不对称公差的议题,有非常多的讨论发表刊出解决方法,但目前并没有一套标准来规笵,主要原因乃计算 CPK 的条件,就是要符合常态分配,而常态分本配一定是对称的.因此介绍三种业界常用的方式,解决此问题:(1)将不对称的设计规格,转成对称的制程规格:这是执行 SPC 流程时,必要且正确的做法,一般我们的制程规格,通常要小于客户制定的设计规格,以降低产品无法符合客户需求的风险(一般约取设计规格的 0.75 倍,取 4.5δ 之处,公司可视制程状况与能力,取不同值).因此可以在制定制程规格时,转成对称的公差,有时实际的产品平均值,不一定是设计规格的中心值,可以先量测产品的平均值落在哪里,再行订定制程规格.a. 如公差为,若产品平均值落在 20.5,则可以订定制程规格为如制程的规格的上下限依照设计规格的上下限时,则可取较短的距离做为上下限.20.5 离 19之距离较短,订定的制程规格可为b. 如产品特性一定要中心值落在 20.0 才会有好的 performance 时,则可以订定的制程规格为同样,若制程规格上下限希望依照设计规格的上下限时,则制程规格可为以上为规格变动,Cpk 之公式不变.(2)将制程的中心值改为设计规格上下限的平均值.可将制程规格的中心值,设定-(设计规格上限+设计规格下限)/2,再依照设计规格上下限取约0.75 倍之处,做为制程规格.如公差为,订定制程规格为;若制程规格上下限希望依照设计规格的上下限时,则制程规格可为以上为规格变动,Cpk 之公式不变.(3)依照目前的设计规格,计算 Cpk(u)与 Cpk(1)值,取两者最小值为 Cpk 值;如公差为,则 Cpk(u)=(USL-Xbar)/3S,...
