1薄膜电路设计规则(微波电路工艺研究所)1.0目的1.1本文件定义了薄膜电路的设计规则。1.2这些规定被薄膜生产者应用于所有薄膜电路的制造。1.3本文件分为两部分:1.为了保质保量生产出与工艺所加工技术相匹配的产品,须遵守基本的设计规则。2.掩膜版要求。2.0基本设计规则2.1标准的基片形状是正方形或长方形。形状为异形的基片应与工艺所沟通解决。2.2所有电路图形用AutoCAD软件进行绘制,由直线,圆弧或由它们的组合而构成,并且是封闭的图形,图形不需要填充,输出格式为.DWG或者.DXF;其它图形软件所绘制的图形文件是不被接受的。2.3电路图形文件以电子邮件及其他电子数据形式传递与工艺所,并注明型号、设计师及联系电话,以便沟通。2.4基片的类型、尺寸、厚度、数量和表面质量要求须详细说明。2.5基片表面金属的要求须详细说明,它包括基片正反面的金属结构、厚度和公差。2.6基片典型金属结构有三层,从下到上依次为:电阻层:氮化钽(TaN)支持层:钛钨(TiW)导线层:金(Au)2.7金层厚度要求≤4微米,可提供的最小线宽是18微米。需要更小线宽请与工艺所沟通解决。(见图1)2.8金层厚度要求≤4微米,可提供的最小缝隙是18微米。需要更小缝隙请与工艺所沟通解决。(见图1)2.9金层厚度要求≤4微米,可提供的基片上关键图形尺寸的最小偏差是±2.54微米(如电感、朗格电桥的线和缝等),非关键图形尺寸的最小偏差是±7.62微米。2.10金层标准厚度是4微米,厚度的标准偏差是±20%。22.11氮化钽电阻标准方阻为50Ω/□,电阻标准偏差是±10%。需要其它方阻请与工艺所沟通解决。2.12电阻图形最小的宽度和长度是50微米。2.13所有导体和电阻图形到基片边缘的最小距离是50微米。(见图2)2.14可加工金属化孔最小直径为0.1mm,标准比率是1.0,薄膜基片能接受的最小比率是0.8。(例如,0.381毫米厚的基片金属化孔的标准直径是0.381毫米,孔的最小直径是〈0.381×0.8〉毫米即0.3毫米)。比率公式:D/T其中D=金属化孔的直径T=基片厚度2.15最小孔距是0.8×基片厚度×2。(见图3)2.16孔边缘到导体图形边缘的最小距离是63.5微米。(见图3)2.17孔中心到基片边缘的最小距离是0.8×基片厚度×1.5。(见图3)2.18孔位最小偏差为50微米。2.19电路中应该有一个独立的50欧的测试电阻,两边测试电极的尺寸为0.3毫米×0.3毫米。这对设计混合电路不可测量的电阻是十分重要的。(见图4)2.20除圆孔外可加工方槽、椭圆孔等多种异形槽,具体形状及大小应与工艺所沟通解决。2.21基片外形尺寸标准偏差是±50微米。2.22拼版的标准直接决定于所用的基片。拼版的尺寸要求取决于电路尺寸和质量要求。工艺所现有进口Al2O3瓷片尺寸是2〞×2〞(50.8毫米×50.8毫米)。2.23拼版后有效使用面积为40毫米×40毫米。2.24标准划片槽宽度有100微米、150微米、200微米三种尺寸。2.25基片最小工程加工量是一片2〞×2〞尺寸基片,并且只能排两种不同尺寸的图形,若是异形图形只能排一种图形;实际加工面积按合格后的基片面积核算。3.0标准要求3.1用AutoCAD文件绘制导体层和电阻层时,导体层和电阻层应绘制在不同层上,分别用不同的颜色加以区分。制作薄膜电路由于精度要求高,掩膜版需外协加工,加工周期3–4天。3.2导体层掩膜版要求3.2.1导线层图形由直线,圆弧或由它们的组合而构成,并且是封闭的图形,图形不需要3填充。3.2.2所有电路图形在导体层掩膜版上应该有一个识别标志。3.2.3有凹口的电阻作为空隙处理。(见图4)3.3电阻层掩膜版要求3.3.1电阻设计原理3.3.1.1电阻的阻值由电阻的长度对宽度比例来决定,并用多少“方”来表示。3.3.1.2计算电阻阻值的方程式:R=s(L/W)R=电阻值(单位:ohms)s=薄膜电阻值(单位:ohms/方)L=电阻的长度尺寸W=电阻的宽度尺寸3.3.1.3电阻的长度永远是指平行于电流方向的电阻尺寸。3.3.1.4电阻在角部(如:L形或折弯形)的正方形,取薄膜电阻值的二分之一(见图5)。3.3.1.5电阻的类型3.3.1.5.1矩形形状:最常用类型电阻(见图6)。3.3.1.5.2L形或折弯形状:电阻在角部(例如:L形或折弯形)的正方形,取薄膜电阻值的二分之一。(见图7)3.3.1.5.3蛇弯形状:该形状通常用于大阻值的电阻,角部的数量使电阻...