《控制图及Cpk制作与使用指导书》VIP专享VIP免费

控制图及Cpk制作与使用指导书 1 . 目的 为考察产品在生产中的品质稳定性及过程能力，以便能及时发现不良或不良趋势，作出相应的改善或预防措施来减少变差，提高生产率。 2. 范围 用于来料、制程和最终的产品。 3. 职责 3.1 质量工程师负责根据客户要求或内部品质控制需要，确定需制作的控制图，计算 Cpk的产品特性参数，负责产品初期能力研究。 3.2 IQC负责来料的SPC的收集和数据验证 3.2 生产部操作员 IPQC和 FQC负责产品过程控制中的控制图使用。 4. 定义 4.1 Pp 性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能。 4.2 Ppk 说明过程有无偏倚的能力指数，定义为： 3XUSL及 ˆ3LSLX 中较小的值。 4.3 Cp 稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移。 4.4 Cpk 稳定过程有无偏移的能力指数，定义为3XUSL及 ˆ3LSLX 中较小的值。 4.5 X 平均数 4.6 R 全距 4.7 UCL 控制上限 4.8 LCL 控制下限 4.9 CL 控制中心 4.10 δ 或δ 标准偏差 5. 程序 5.1 过程分析的尺寸为客户指定或过程检验指导书中注明特殊符号的尺寸. 5.2 在下列情况下须进行过程分析. 5.2.1 客户要求 5.2.2 内部品质控制要求,对特定尺寸进行过程分析. 5.2.3 过程工具设备或控制方法发生变化,需重新进行Cpk分析和制作控制图. 5.2.4 其它特别要求的 5.3 控制图制作方法，参见QS9000-SPC手册 5.3.1 建立控制图的时机:确定测量系统后,产品试生产阶段进行过程的初期研究 5.3.2 收集数据 5.3.2.1 选择子组大小，频率和数据 选择子组大小：子组一般由4到5件连续生产的产品的组合 数据收集频率：依实际情况确定 数组的分组：最小25组数据 5.3.2.2 建立控制图及记录原始数据（见表一） 5.3.2.3 计算每个子组的均值（X-bar）和极差（R） 每个子组计算：X =（X1+X2+…Xn）/n ， R=X最大-X最小值 式中：X1，X2…..为子组内每个测量值；n 为子组的样本容量。 5.3.2.4 选择控制图的刻度 对于 X 图，坐标上刻度值的最大与最小值之差至少为子组值（X）的最大与最小值差的2 倍。 对于 R图，刻度值应从最低值为 0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2 倍。 5.3.2.5 将均值和极差画到控制图上 将均值和极差分别画在其各自的图上，将各点用直线联接起来从而得到可见的图形程趋势。可直接将原始数据输入电脑，由电脑完...