入门话题3：用阻抗曲线形状调试倒相箱的错误认识

入门话题 3 ：用阻抗曲线形状调试倒相箱的错误认识 阻抗曲线的测量相对比较简单，能不能从阻抗曲线的形状来判断倒相箱的调试是否合理，是许多朋友关心的问题。有许多书明确提出了一些判断的方法，在重述这些方法之前，我们先来看看倒相箱阻抗曲线的典型形状： 在上图中，倒相箱的阻抗曲线形成了两个明显的峰，两峰中夹着一个谷，这就是倒相箱阻抗曲线的典型形状。其中，频率较低的峰的频率可记作 fl，频率较高的峰对应的频率可记为 fh，而谷的位置记为 fb。fb就是倒相管与箱体共同组成的一个亥姆霍兹共鸣腔的谐振频率，简单地说，就是倒相箱的谐振频率，fb的 b就是 box的简写。（附加一个问题，这个频率与单元的参数有没有关系？） 上文说到许多书，既有科普的也有专业的，提出了一些判断方法，这些方法大意（表述不全面不到位的，请大家补充）是： 1。谷的高度，也就是欧姆数值，越接近于单元额定阻抗，说明音箱的气密性越好。反之，谷的高度越高，也就是与额定阻抗的差距越大，说明音箱漏气越严重。 2。调谐良好的双峰形状是等高的。低频峰高，说明倒相管的口径偏大；高频峰高，说明倒相管的口径偏小。 3。箱体体积大，双峰之间的距离小；箱体体积小，双峰之间的距离大。 很多人，包括许多工程师都把这些方法应用在倒相管的调整中。但是，严格地说，除了第3点，前两点都不准确甚至是错误的，而第3点虽然没错，但对箱体的调整工作实际上没有什么指导意义。 以下用大家熟悉的 lspcad做一些模拟，对这些方法进行讨论。 1。首先，谷的高度可以小于额定阻抗。把上面所说的”额定阻抗“换成”直流电阻“将合理得多，下图是一个 peerless 8ohm单元在一个假定损耗很小的箱体上的阻抗模拟结果（QB3调准，Ql和 Qa均为 100，吸音棉为 0），可以看到，谷的高度仅有 6.3ohm左右，接近单元的Re，比额定阻抗8ohm小得多: 其次，影响谷的高度的主要因素是倒相箱系统的损耗。倒相箱的损耗主要有泄露损耗（Ql）、吸收损耗（Qa）和倒相管损耗（Qp）。虽然泄露损耗是主要的损耗，但不能由“泄露"两个字就以为是漏气决定的，箱壁的强度也有很大的影响。并且由于倒相箱普遍填充有吸声材料，后二者也可以是非常明显的。比如在上面的模拟中，把 Ql和Qa分别设为 7和30，谷的低点升高到 7.8ohm左右，仍然低于额定阻抗，而吸音材料的量设为 30%时，就上升到 8.4ohm左右: 2。关于双峰的高度，这里以 lspcad自带的数据库中的 peerless六寸半单...