XRF 的理论原理简介XRF 理论原理简介 作者：Peter Brouwer 编译：杨成选 校对：高新华Peter N. Brouwer 1958 年 4 月 2 日生于荷兰 Almelo。他在 Enschede 技术学院学习应用数学，1985 年毕业。同年 12 月进入菲利浦分析仪器部，即现在的帕纳科。在这里他与 Eindhoven 的菲利浦讨论实验室密切合作从事分析软件模型的开发。他的另一项活动是长期参加 XRF 培训教程的编写工作，因而有了本书的问世。本书的目的在不涉及复杂的数学公式和深奥的理论的前提下，只对 XRF 作一个一般性介绍，使得 XRF 初学者能够容易的阅读和理解。 目录1.前言2.什么是 XRF3.XRF 基础3.1 什么是 X 射线3.2 X 射线与物质的相互作用3.3 特征荧光辐射的产生3.4 吸收和增强效应3.5 吸收和分析深度3.6 瑞利和康普顿散射3.7 偏振4.XRF 光谱仪4.1EDXRF 光谱仪4.1.12 维光学 EDXRF 光谱仪4.1.23 维光学 EDXRF 光谱仪4.2WDXRF 光谱仪4.3EDXRF 与 WDXRF 光谱仪的比较4.4X-射线管4.5二次靶4.5.1 荧光靶4.5.2 巴克拉靶4.5.3 布拉格靶4.6 探测器与多道分析器4.7 多道分析器(MCA)4.7.1ED 固体探测器4.7.2封闭探测器4.7.3闪耀探测器4.8 逃逸峰和堆积峰4.9 不同探测器间的比较4.10 滤光片4.11 衍射晶体和准直器4.12 光阑4.13 自旋4.14 真空与 He 气系统5.XRF 分析5.1 样品制备5.1.1 固体5.1.2 粉末5.1.3 玻璃熔珠5.1.4 液体5.1.5 滤纸上物料5.2XRF 测量5.2.1 优化测量条件5.3EDXRF 定性分析5.3.1 峰搜索与峰匹配5.3.2 解谱(卷积)与背景拟合5.4WDXRF 定性分析5.4.1 峰的搜索与匹配5.4.2 测量峰的高度与背景扣除5.4.3 谱线重叠修正5.5 计数统计与检测限5.6 EDXRF 与 WDXRF 定量分析5.6.1 基体效应基体校正模型5.6.1.1 影响系数基体校正模型5.6.1.2 基本参数(FP) 基体校正模型5.6.1.3 康普顿基体校正模型5.6.2 谱线重叠校正5.6.3 漂移校正5.6.4 薄样品5.7 分析方法5.7.1 平衡化合物5.7.2 归一化5.8 无标样分析6. 参考文献 索引1. 前 言 本手册提供 X-射线荧光光谱仪及 XRF 分析的概括性介绍。简要说明光谱仪如何工作以及如何进行 XRF 分析。它是专为 XRF 分析领域中刚刚入门的人而写。书中尽量避开使用难以理解的数学公式,因此本手册只需具备一些基本的数学和物理知识。 本册子并非专门针对某一种型号的光谱仪或某一应用领域，其目的仅就主要的光谱仪型号及应用领域做一...
